PolyTools 2.0

PolyTools可以直接使用flexAnalysis或其它布鲁克软件生成的峰列表,也可以使用其它来源的峰列表。PolyTools将自动确定质谱图中的单体，端基和阳离子。如果在峰列表是来自于同位素分辨的数据，则属于同一分布的同位素峰被确认，并可简化为一系列单同位素峰。PolyTools可以确定每个系列的平均分子量Mn和Mw，分散度Đ_米和聚合度，并给出端基的建议。显示从所有这些数据计算而来的新谱图，并与实验谱图进行比较。

此外,在PolyTools 2.0中,增加了新的肯德里克视图功能,可以可视化地显示在谱图中观察到的聚合物系列,并有助于聚合物系列的归属和解析,尤其是复杂混合物样本的聚合物序列。

从样品溶解到PolyTools显示聚合物的表征结果只需几分钟。因此,PolyTools与MALDI-TOF质谱分析相结合,是快速,可靠的获取供应商来料信息的理想组合。样品的平均分子量Mn和Mw以及观察到的端基组合等信息还可以与参考化合物进行直接比较。

对于复杂的聚合物混合物,如非离子表面活性剂渐变,需要对谱图进行不同形式的可视化处理:在这种情况下,对发现的寡聚离子系列进行简单的模拟是不够的。PolyTools可提供Kendrick质量亏损(KMD)图和分辨率增强型KMD图两种数据显示形式。对于在低分辨率的仪器上获得的数据或在高质量范围内只能实现寡聚分辨的数据,PolyTools还可以提供余数Kendrick质量(RKM)功能。与常规和分辨率增强的KMD图相比，可以进一步提高质量允差。即使是质量范围超过10 kDa或TOF/TOF谱图，也可以合理地可视化。

对于端基分析，基于提醒名义Kendrick Mass(RNKM)功能，PolyTools 2.0提供了两种形式的视图:KMD - RNKM和RKM - RNKM。作为PolyTools 2.0的一部分,PolymerTable编辑器允许用户非常方便地以列表形式设置单体单元,端基和阳离子,PolyTools 2.0利用这些列表作为数据库可以对图谱进行解析。

在质谱实验中，对于低聚物进行了完整检测时，所测得的质量由一定数量的重复单元、加合离子和两个端基组成。但却无法获得单侧端基基团的信息。米S/MS 实验可以提供此信息，因为每个二级碎片仅携带一个单侧端基基团 [1]。

Ms / Ms能够更深入地了解聚合物样品结构的另一个应用是确定嵌段共聚合物[2]中的嵌段长度。

[1] Knop等;不同取代mPEG 2000的MALDI‐TOF CID系统研究絮凝。化学。物理学报，2010,211,677-684

[2] Weidner等人;液相色谱与基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱耦合表征共聚物的新型软件工具快速Commun。质谱，2007;21日,2750 - 2758