尺寸边缘
【中文译文
亮点
维边缘
PeakForce轻敲®(afm)。基于维度图标平台开发、尺寸边缘系统的设计具有低漂移,低噪音的特点,大大提高了数据获取速度和可靠性,使用这台全新的仪器,几分钟时间即可获得高质量,可发表的专业数据。另外，其集成的可视化反馈和预配置设置，使其如专家现场操作一样，简单方便，测量结果高度一致。维边缘最先进的大样品 AFM 功能和技术可为每个用户的多种应用环境提供选择。
模块化
显微镜和电子系统
以中等成本提供高图像保真度和研究灵活性。
内置
访问信号通路
支持自定义测量和扩展功能。
集成
大样品台控制系统
提供快速的样品测量定位导航和高效的多点位测量。
特点
闭环精度
该系统的核心配件是布鲁克著名的闭环扫描器。该扫描器采用温度补偿位置传感器，由模块化设计的低噪声控制电子器件驱动，可将探针扫描的闭环噪声级别降低至单个化学键长度的量级。
水蚤是小甲壳类动物(体长400μm至3毫米),对环境因素具有极强的抵抗力,如高pH值(高pH值达9.5)水环境,然而,这种独特抵抗力背后的原因鲜为人知。因此，研究其甲壳的纳米级特性，以及为什么物体不易粘附到甲壳表面等性质，对工业表面的开发、设计以及对生物学家来说，具有特别的吸引力。
大样品平台
尺寸边缘
维边缘样品台不仅由马达控制,可进行编程实现高效多点测量,还允许您直接在AFM扫描器下同时放置更多类型的样品,减少样品放置时间。探针-样品交汇处的物理开放性，使您能够更直接地观察样品器件的几何结构，以及器件的电气连接或放置其他定制的实验附件。
自动成像优化
维边缘采样阶段不仅可进行电动和可编程,可进行高效的多点测量,还允许您直接在AFM扫描仪下安装更多类型的样品,同时使用更少的制备时间。对探针-样品交汇点的物理开放访问能够更直接地调查具有几何挑战性的器件结构，以及电气连接或其他定制实验附件的附件的附件。
Hopg, c36h74烷。(±4.5nm)130nm。
应用
【中文译文
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基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式),布鲁克提供的全套AFM测试模式,允许用户探测样品的电学,磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。
维度边缘
■■■■■■■维扫描器和布鲁克FIB探针的配合使用,能对此具有挑战性的几何结构进行成的像,且不会损坏探针。
暗升力SCM。SRAM。掺15μm。
维边缘高性能AFM能够观察小麦谷物成分中生物聚合物的纳米级结构,从而更好地了解其结构与谷物产品宏观特性的关系。90 μm。
解析解析:解析解析:200nm。
Hopg, c36h74烷。(±4.5nm)130nm。
闭环相位图像。(苯。2μm。
【中文】:scanassist。500nm。
维边缘提供一整套纳米机力学性能和电学模式:相位成像,力谱,压电响应力显微镜,导电AFM和开尔文探针力显微镜等。结合独特的设计以实现最高空间分辨率及原子分辨率成像。
维边缘提供全套电学模式:利用布鲁克的专利提升模式,实现电场梯度成像的EFM,灵敏的功函数测量的KPFM,无假象导电图测量的黑暗的电梯CAFM模式等。
接触模式云母晶格原子像。1.5nm。
【翻译】:【翻译】【中文】:PSS图案的形状各不相同，但以圆锥形、半球形、金字塔形或其他类似结构为主。这些结构可用于改变发射光子的角度，减少总内部反射，从而提高效率。Edge-PSS AFM可提供控制PSS制程计量,包括特征高度,宽度和角度测量,同时提供完整的3 d轮廓。PSS。
