纳米奇才纳米科学

NanoWizard 4 XP NanoScience配备了一系列新功能，包括:

• PeakForce攻®便于成像
• 快速扫描选项高达150行/秒
• NestedScanner技术用于高达16.5µm的表面结构的高速成像，具有出色的分辨率和稳定性
• 新的平铺功能用于大样本区域的自动制图
• V7软件具有革命性的基于工作流的新用户界面
• DirectOverlay™2软件与先进的荧光显微镜平台进行完美的整合和数据关联
• Vortis™2控制器用于高速信号处理和最低噪声水平

PeakForce攻线提供卓越的力控制和简单的设置，无论样品或环境。不需要专业知识或悬臂调谐。

它可以精确控制探针与样品的相互作用，并最大限度地减少成像力，从而保护您的尖端并确保一致，长期，高分辨率的成像。

最快和最简单的导航方式就是看你想去哪里。DirectOverlay 2提供即时导航，在扫描仪范围内的任何地方直接选择测量位置。电动精密阶段和HybridStage™自由实验的AFM压电范围的横向约束，并允许直接电动运动到选定的位置。

新DirectTiling功能自动创建一个大的光学概述，以加速这一过程。Multiscan支持高分辨率图像的平铺，以建立样本的全面概述。重复或复杂的测量序列可以自动使用ExperimentPlanner™宏。

图片显示PDMS冲压表面图案，样品由意大利热那亚大学Claudio Canale博士提供。[1]参考图案的光学图像。四个正方形区域标有同心角图案，内角形成一个50微米的正方形，中间印有测试图案，但在光学中不可见。通过DirectOverlay导入SPM软件，这样的图像允许在参考位置之间单击导航，这些位置被许多倍的压电范围分隔开。两种参考模式的高级图像(见箭头)，地形[2]+[4]和粘附图像[3]+[5]。

表征电，机电或磁性样品的性质一直是一项艰巨的任务，特别是在松散附着，脆性或软样品。JPK的气™先进模式功能使这变得简单和直接。NanoWizard 4 XP纳米科学系统是由一个全面的模式和配件的支持，每个设计易于处理，以满足研究人员的个性化需求。许多研究材料特性(包括电学特性)的实验都得益于在封闭的实验室内进行测量，并在受控的惰性气体气氛下进行。

材料性能表征

• 机械性能(弹性、刚度、附着力、变形)
• 电学性质与电力显微镜，导电AFM，开尔文探针AFM (KPM)，扫描隧道显微镜(STM)
• MFM的磁性能
• 光导AFM的电光性质
• 扫描热原子力显微镜研究局部热特性
  

原位AFM，同时施加外部载荷来改变样品的性质

• 高压压电响应显微镜(PFM)
• 用StretchingStage观察外载荷下的样品
• 施加外部磁场
• 电化学与扫描电化学(SECM)
  

环境控制选项示例

• 样品从环境温度加热到300°C
• 样品从环境温度冷却至- 35°C
• 低温afm降低到- 150°C与CryoStage
• 定义样品湿度
• 非常适合在液体中进行实验即使是恶劣的液体
• 控制气流的实验
• 在手套箱里进行严苛环境下的实验
  

• 快速扫描选项高达150行/秒跟踪动态过程
• 现在有了布鲁克独家的PeakForce tap作为标准
• l大扫描场100 × 100 × 15µm^3.倒置显微镜的原子晶格分辨率
• 新的基于工作流的用户界面符合人体工程学和易于操作
• 新的平铺功能用于与HybridStage一起自动绘制大样本区域
• 新的旋涡2控制器采用高速低噪声dac和先进的位置传感器读出技术
• 最高的灵活性和可升级性具有广泛的模式和配件
  

标准操作模式

成像模式

• 现在有了PeakForce tap
• 侧向力显微镜(LFM)接触模式
• 轻拍模式™与PhaseImaging™

力的测量

• 静态与动态光谱学
• 高级力映射

• 高次成像
• 开尔文探针显微镜和SCM MFM和EFM(另见QI模式)
• 导电AFM(参见QI模式)
• 扫描隧道显微镜
• 电光谱模式
• 高压压电响应显微镜
• 电化学与温度控制和光学显微镜
• 纳米
• 纳米操作
• Nanoindentation
• 扫描热原子力显微镜
• 来自Cytosurge的FluidFM®溶液
• 用于设计特定测量工作流程的ExperimentPlanner
• RampDesigner™用于定制设计的夹具和斜坡实验
• 实验控制功能，用于远程实验控制
• 直接覆盖2联合AFM和光学显微镜
• 额外的XY或Z样品移动阶段可与CellHesion®，TAO™和HybridStage™模块
  

光学系统/配件，电化学解决方案，电样品表征，环境控制选项，软件模块，温度控制，声学和振动隔离解决方案等等。布鲁克为您提供合适的配件来控制您的样品条件并进行成功的实验。

新的V7软件界面引导用户通过工作流程直观地设置实验，并使其简单，即使对于具有最小AFM经验的用户，也可以自信地进步以生成高质量的数据。设置和操作的每个阶段都是一个优化的桌面，只需单击一下就可以将所有重要信息集中在一起。

• 在屏幕上，上下文敏感的帮助
  
• 校准和设置的状态反馈
• 高效的基于任务的实验选择
• 快速访问最喜欢的和最近使用的实验
• 一键式探头校准
• 关键数据的即时概览
• 多用户环境(如成像设施)的用户管理