布鲁克的传感器技术使用夹持器形探头,可用于直接拉伸样品。该技术适用于低负载和高负载的传感器。直接拉伸测试能够提供稳定的单轴样品加载配置,因此使用非常广泛。该测试方法与另一种拉伸测试方法即已获专利的压转拉模块(PTP)装置都能提供独特的样品制备路线,因此具有很强的互补性。
直接拉伸测试的数据可提供完整的应力应变曲线、杨氏模量、屈服强度、加工硬化等。该技术需要复杂的样品制备和精确的样品定位。旋转倾斜样品台可以使样品相对于夹持压头轴向旋转,可为压痕定位提供额外的优势,并实现样品表面的 EBSD 成像。2006年,使用布鲁克 Hysitron PicoIndenter 工具的研究人员率先开展了原位定量测试。该测试最初在透射电子显微镜(TEM)中完成,紧接着又在扫描电子显微镜(SEM)中完成。